Vacuum Deposition Recipes: Difference between revisions
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==Thermal Evaporation== |
==Thermal Evaporation== |
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==Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD)== |
== Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD) == |
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=== SiN deposition === |
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#'''Clean''' (30CLN_SN) |
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##Initial t=10", p=2x10-2, T=250C |
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##N2 Purge t=30", p=300mT |
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##evacuate, base pressure=2x10-2, t=10" |
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##loop |
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##gas stabilization, t=30" |
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##etch chamber, t=30' |
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##evacuate, t=10" |
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##N2 purge |
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##evacuate |
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##loop |
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##SiN gas stabilization |
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##SiN deposition( 200A coat) |
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##evacuate |
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##N2purge, t=30" |
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##end |
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#'''SiN deposition''' (SiN_10) 130.8 A/min |
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##Initial t=10" |
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##N2 purge t=30" |
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##evacuate, t=10" |
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##loop |
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##SiN gas stabilization, t=30" |
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##SiN deposition t=8'11.2" |
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##evacuate, t=10" |
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##N2 purge t=30" |
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##evacuate t=10" |
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##loop |
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==Atomic Layer Deposition (ALD)== |
==Atomic Layer Deposition (ALD)== |
Revision as of 20:08, 9 July 2012
This table can be used to help located the needed recipe.
Vacuum Deposition Recipes
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E-Beam Evaporation | Sputtering | Thermal Evaporation | Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD) |
Atomic Layer Deposition | Ion-Beam Deposition (IBD) | Molecular Vapor Deposition | |||||||||||
Material | E-Beam 1 (Sharon) | E-Beam 2 (Custom) | E-Beam 3 (Temescal) | E-Beam 4 (CHA) | Sputter 1 (Custom) | Sputter 2 (SFI Endeavor) |
Sputter 3 | Sputter 4 | Sputter 5 (Lesker AXXIS) | Thermal 1 | Thermal 2 | PECVD 1 (PlasmaTherm 790) |
PECVD 2 (Advanced Vacuum) |
Unaxis VLR ICP-PECVD | |||
Ag | Y | ||||||||||||||||
Al | |||||||||||||||||
Al2O3 | |||||||||||||||||
AlN | |||||||||||||||||
Au | |||||||||||||||||
B | |||||||||||||||||
Co | |||||||||||||||||
Cr | |||||||||||||||||
Cu | |||||||||||||||||
Fe | |||||||||||||||||
Ge | |||||||||||||||||
Hf | |||||||||||||||||
HfO2 | |||||||||||||||||
In | |||||||||||||||||
Ir | |||||||||||||||||
ITO | |||||||||||||||||
Mo | |||||||||||||||||
Bn | |||||||||||||||||
Ni | |||||||||||||||||
Pd | |||||||||||||||||
Pt | |||||||||||||||||
Ru | |||||||||||||||||
Si | |||||||||||||||||
SiN | |||||||||||||||||
SiO2 | |||||||||||||||||
SiOxNy | |||||||||||||||||
Sn | |||||||||||||||||
SrF2 | |||||||||||||||||
Ta | |||||||||||||||||
Ta2O5 | |||||||||||||||||
Ti | |||||||||||||||||
TiN | |||||||||||||||||
TiO2 | |||||||||||||||||
V | |||||||||||||||||
W | |||||||||||||||||
Zn | |||||||||||||||||
ZnO2 | |||||||||||||||||
Zr | |||||||||||||||||
ZrO2 |
Recipes
E-Beam Evaporation
Recipe 1
- Step 1 ....
- Step 2...
Recipe 2
Sputtering
Thermal Evaporation
Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD)
SiN deposition
- Clean (30CLN_SN)
- Initial t=10", p=2x10-2, T=250C
- N2 Purge t=30", p=300mT
- evacuate, base pressure=2x10-2, t=10"
- loop
- gas stabilization, t=30"
- etch chamber, t=30'
- evacuate, t=10"
- N2 purge
- evacuate
- loop
- SiN gas stabilization
- SiN deposition( 200A coat)
- evacuate
- N2purge, t=30"
- end
- SiN deposition (SiN_10) 130.8 A/min
- Initial t=10"
- N2 purge t=30"
- evacuate, t=10"
- loop
- SiN gas stabilization, t=30"
- SiN deposition t=8'11.2"
- evacuate, t=10"
- N2 purge t=30"
- evacuate t=10"
- loop